器件参数提取及PDK提取需要高效快速地进行晶圆参数测试及可靠性测试。 在此专题讲座中，与会者将学习如何快速构建晶圆可靠性测试系统，从而更快速地获得晶圆参数数据。
Joris 2007年加入NI。2010年以来，先后担任大客户经理，BDM，以及专注于产品生产和V＆V方面的市场负责人，在半导体行业积累了丰富的经验。
手机号
姓名
备注
签到
主持人发起了签到
您还有 0秒钟签到时间
问卷