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机器学习(ML)技术可利用数据为芯片测试提供优化建议,从而提升测试效率和产品质量。 在此次演讲中,我们将说明如何更好地构建数据基础设施并充分利用机器学习优化测试,并重点以案例来分享最佳方法。
Alon拥有20多年的研发领导经验,在大数据分析和机器学习领域拥有丰富经验。加入NI之前,Alon在 OptimalPlus担任CTO和首席架构师。
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