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无论是移动终端,还是工业设备,AD/DA是存在于各种应用场景中的基础芯片,而对于这类混合信号芯片的测试是需要低噪声电源,数字接口信号抓取,以及信号源与时钟信号之间的高性能同步,基于这样的要求如何能够快速搭建这样模拟和数字混合的测试系统并且实现交互式特性分析及自动化测试,此演示中我们将展示如何PXI平台搭建18bit ADC测试特性分析Bench并实现自动化
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