18bit ADC Characterization Demo
无论是移动终端，还是工业设备，AD/DA是存在于各种应用场景中的基础芯片，而对于这类混合信号芯片的测试是需要低噪声电源，数字接口信号抓取，以及信号源与时钟信号之间的高性能同步，基于这样的要求如何能够快速搭建这样模拟和数字混合的测试系统并且实现交互式特性分析及自动化测试，此演示中我们将展示如何PXI平台搭建18bit ADC测试特性分析Bench并实现自动化
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天线调谐器测试
新的5G手机需要支持像n77, n 78， n79这样的新频段，并又继续引入MIMO 和载波聚合等要求，而这些要求会增加手机天线数量，甚至增加至10个。新的手机设计需要将更多的天线安装到更小的空间内，这些的要求会影响天线的效率从而影响收发性能。为了克服这些问题，经常会使用调谐来提升效率扩大频段。而在开关和辐射元件之间增加不同的调谐器件可进一步影响天线谐振频率，增加频段支持。我们这次展示的一颗调谐开关基于STS的测试方案，介绍如导通状态电阻 (RON) 和断开状态电容 (COFF), 谐波，隔离度，插损等参数测试。
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Wafer Level Reliability Demo Video (英文)
为您演示如何透过PXIe-4135 SMU进行二线及四线式的WLR 压力测试达成fA 级别的测量性能
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mmWave OTA CATR Demo (英文)
演示NI 5G 毫米波空口测试解决方案是如何基于紧凑型空口天线测试范围法进行直接远场（DFF）和间接远场（IFF）测量。
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Semi Device Control Add-On Demo (英文)
演示新的InstrumentStudio™半导体设备控制插件，该插件可用于交互式设备寄存器控制，进而实现全自动验证。该演示以I2C和SPI为例。
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Semi Protocol Validation Solution Video (英文)
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High Current Pulsing and Customized Transient Response with an SMU Demo Video (英文)
关键产品：PXIe-4139，NI SMU，InstrumentStudio
简介：NI SMU能够生成高达10A的脉冲，并具有可自定义的瞬态响应，以实现快速的上升和下降时间。该演示演示了如何使用NI SMU生成短脉冲，以及如何使用SourceAdapt技术调适SMU的瞬态响应。
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SystemLink Software Configuration Demo (英文)
测试系统管理可用于对公司测试和测量资产（软件，系统和夹具）的集中管理。
通过使用实时信息来提供最佳的系统功能和可用性，它有助于充分利用测试和测量资源。
该视频演示了与手动操作相比，NI SystemLink如何更有效地执行测试系统管理。
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RFIC Fron-End Test Demo Video (英文)
NI 针对射频前端半导体的 RFIC 验证解决方案演示，该解决方案集成了标准内置模型，NanoSemi 的 IP 或于 Matlab 软件中的算法、微波负载牵引，包络线跟踪和数字预失真。
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