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通过机器学习驱动半导体测试大数据决策(英文)
机器学习(ML)技术可利用数据为芯片测试提供优化建议,从而提升测试效率和产品质量。 在此次演讲中,我们将说明如何更好地构建数据基础设施并充分利用机器学习优化测试,并重点以案例来分享最佳方法。
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